La tecnica IBIC, acronimo di Ion Beam Induced Charge, è una tra le principali tecniche IBA ( Ion Beam Analysis ). Essa sfrutta fasci di ioni, accelerati a energie dell'ordine del MeV, per ricavare informazioni sulle proprietà elettroniche dei materiali in esame. In particolare è possibile caratterizzare, dal punto di vista elettronico, dispositivi a semiconduttore, anche ultimati.

principi e applicazioni della tecnica IBIC

PISTAMIGLIO, CRISTIAN
2009/2010

Abstract

La tecnica IBIC, acronimo di Ion Beam Induced Charge, è una tra le principali tecniche IBA ( Ion Beam Analysis ). Essa sfrutta fasci di ioni, accelerati a energie dell'ordine del MeV, per ricavare informazioni sulle proprietà elettroniche dei materiali in esame. In particolare è possibile caratterizzare, dal punto di vista elettronico, dispositivi a semiconduttore, anche ultimati.
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14240/70462