Characterization of Silicon samples implanted with Carbon and Silicon MeV ions using a confocal optical microscope. The objective is to observe the effects on the photoluminescence of the samples from different MeV ion implantation methods.
Caratterizzazione di campioni di Silicio impiantati con ioni Carbonio e Silicio MeV tramite microscopio ottico confocale. L'obiettivo è quello di osservare gli effetti sulla fotoluminescenza dei campioni dei diversi metodi di impiantazione con ioni MeV.
Caratterizzazione di emettitori quantistici in silicio impiantato con ioni MeV
CUCCUREDDU, MATTEO
2023/2024
Abstract
Caratterizzazione di campioni di Silicio impiantati con ioni Carbonio e Silicio MeV tramite microscopio ottico confocale. L'obiettivo è quello di osservare gli effetti sulla fotoluminescenza dei campioni dei diversi metodi di impiantazione con ioni MeV.File in questo prodotto:
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https://hdl.handle.net/20.500.14240/6498