Caratterizzazione di una nuova sorgente a raggi X per lo studio di rivelatori a pixel al silicio

ggetto della tesi è la caratterizzazione della sorgente a raggi X collocata presso il Laboratorio Tecnologico dell’INFN di Torino. La sorgente è costituita da un tubo con anodo in W (potenza massima 3 kW) e può fornire un fascio di raggi X ad alta intensità con spettro continuo oppure un fascio ad intensità ridotta ma con spettro quasi monocromatico ottenuto per fluorescenza. Nella prima configurazione, il campo di radiazione è stato misurato con fotodiodi commerciali e con prototipi dei rivelatori a pixel dell’esperimento CMS. Nel caso della fluorescenza è stato usato uno spettrometro commerciale ad alta risoluzione. I risultati ottenuti sono stati confrontati con quelli di sorgenti analoghe installate presso altri laboratori europei.